13種粉體粒度檢測的方法、原理、測定范圍及特點

在不同的應(yīng)用領(lǐng)域中，對粉體特性的要求是各不相同的，而粒度大小及分布是所有應(yīng)用領(lǐng)域中關(guān)注的一項指標(biāo)，因此，客觀真實地反映粉體的粒度分布是至關(guān)重要的。

粉體粒度檢測是控制產(chǎn)品生產(chǎn)指標(biāo)和調(diào)整優(yōu)化生產(chǎn)工藝的主要依據(jù)。對于超細(xì)粉體產(chǎn)品，其顆粒尺寸大小和粒度分布直接影響其特性、價格和用途。對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用，因此粉體粒度檢測。

　　1、粉體粒度檢測的方法、原理、測定范圍及特點

由于各種粒度測定方法的物理基礎(chǔ)不同，同一批樣品用不同的測定方法或測定儀器所得到的粒度的物理意義及粒度大小和粒度分布也不盡相同。

用顯微鏡、庫爾特計數(shù)器、激光粒度分析儀等得到的是統(tǒng)計徑；沉降法得到的是等效徑（即等于具有相同沉降末速的球體的直徑）；透過法和吸附法得到的是比表面積直徑。 

丹東百特BT-9300LD干濕法兩用激光粒度分布儀

　　2、良好分散是準(zhǔn)確檢測的前提

在選擇測定方法時，需要綜合考慮物料的粒度分布范圍，測定的目的，要求的精度及特征粒度分布數(shù)據(jù)以及物料的性質(zhì)等因素。

在超細(xì)粉體的粒度測定中，樣品的預(yù)先分散對測定結(jié)果有重大影響。無論用什么方法或儀器進行測定，只有在顆粒處于良好分散的前提下，測定結(jié)果才可能準(zhǔn)確。

3、關(guān)于粉體的基本概念

（1）晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內(nèi)為單相，無晶界。

（2）一次顆粒：指含有低氣孔率的一種獨立的粒子，顆粒內(nèi)部可以有界面，如相界、晶界。

（3）團聚體：指由一次顆粒通過表面力或固定橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體內(nèi)含有相互連接的氣孔網(wǎng)絡(luò)。團聚體可以分為硬團聚和軟團聚兩種。團聚體的形成過程使體系能量下降。

（4）二次顆粒：指人為制造的粉料團聚粒子。

超細(xì)粉體粒子一般指一次顆粒。其結(jié)構(gòu)可以是晶態(tài)、非晶態(tài)和準(zhǔn)晶態(tài)；可以是單晶、多相或多晶結(jié)構(gòu)。只有一次顆粒為單晶時，微粒的粒徑才與晶粒尺寸相同。

（5）粒度：粉體顆粒大小。

（6）等效粒徑：當(dāng)一個顆粒的某一物理特性與同質(zhì)的球形顆粒相同或相近時，就用該球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的直徑。那么這個球形顆粒的粒徑就是該實際顆粒的等效粒徑。

等效粒徑具體有如下幾種：

①等效體積徑：與實際顆粒體積相同的球的直徑。一般認(rèn)為激光法所測的直徑為等效體積徑。

②等效沉速徑：在相同條件下與實際顆粒沉降速度相同的球的直徑。沉降法所測的粒徑為等效沉速徑，又叫Stokes徑。

③等效電阻徑：在相同條件下與實際顆粒產(chǎn)生相同電阻效果的球形顆粒的直徑。庫爾特法所測的粒徑為等效電阻徑。

④等效投進面積徑：與實際顆粒投進面積相同的球形顆粒的直徑。顯向鏡法和圖像法所測的粒徑大多是等效投影面積直徑。

（7）粒度分布：用特定的儀器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體總量的百分?jǐn)?shù)。有區(qū)間分布和累計分布兩種形式。區(qū)間分布又稱為微分分布或頻率分布，它表示一系列粒徑區(qū)間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。